被動(dòng)回避測(cè)試是一種通過(guò)恐懼加重測(cè)試來(lái)評(píng)估學(xué)習(xí)和記憶的方法，尤其在評(píng)估中S神經(jīng)系統(tǒng)病嚙齒動(dòng)物模型中的學(xué)習(xí)和記憶方面被廣泛應(yīng)用。這種測(cè)試中，受試者學(xué)會(huì)避免先前發(fā)出的厭惡刺激，比如足部電擊，所在的環(huán)境。被動(dòng)回避任務(wù)對(duì)于評(píng)估新型化學(xué)實(shí)體對(duì)學(xué)習(xí)和記憶的影響以及研究認(rèn)知所涉及的機(jī)制非常有用。與主動(dòng)回避任務(wù)相比，被動(dòng)回避任務(wù)在控制非認(rèn)知表現(xiàn)因素方面具有諸多優(yōu)勢(shì)。

實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)與流程

在被動(dòng)回避任務(wù)中，嚙齒動(dòng)物被訓(xùn)練來(lái)抑制其自然反應(yīng)。典型的實(shí)驗(yàn)范式中，動(dòng)物被放置在一個(gè)雙室裝置中，旨在促進(jìn)從一個(gè)腔室到相鄰腔室的運(yùn)動(dòng)。例如，在一般情況下，大鼠和小鼠會(huì)自然地從明亮的隔間移動(dòng)到黑暗的隔間。在實(shí)驗(yàn)中，動(dòng)物進(jìn)入黑暗隔間后會(huì)接受足部電擊，然后迅速被移出。經(jīng)過(guò)一段延遲后，動(dòng)物被放回明亮的隔間。被動(dòng)回避測(cè)試的因變量是動(dòng)物在照明室中花費(fèi)的時(shí)間，通常稱為“延遲”，進(jìn)入黑暗隔間被認(rèn)為是動(dòng)物未能回憶起先前接受的足部電擊。

實(shí)驗(yàn)材料

• 研究對(duì)象： 任何品系的小鼠，不需要事先訓(xùn)練，但受試者應(yīng)適應(yīng)測(cè)試環(huán)境。

• 裝置： 被動(dòng)回避站，包括攝像機(jī)、動(dòng)物沖擊器和兩個(gè)帶有金屬地板網(wǎng)格和燈的房間，由帶有紅外光束的隔斷分開(kāi)。

• 軟件： 被動(dòng)回避軟件，包括VisuTrack動(dòng)物行為跟蹤系統(tǒng)。

• 酒精： 用于試驗(yàn)之間清洗，以消除視覺(jué)和嗅覺(jué)殘留。

• 照明： 使用紅燈以避免額外刺激動(dòng)物。

  

實(shí)驗(yàn)操作步驟

測(cè)試前：

• 適應(yīng)： 受試者在測(cè)試前至少被放置在測(cè)試室內(nèi)1小時(shí)，以減少測(cè)試期間壓力對(duì)行為的影響。

測(cè)試過(guò)程：

1. 第1天：動(dòng)物被放置在右腔室，門關(guān)閉。試驗(yàn)開(kāi)始后，兩室的燈打開(kāi)30秒，然后門打開(kāi)，右室的燈打開(kāi)。試驗(yàn)在動(dòng)物穿過(guò)門、打破紅外光束后300秒結(jié)束。動(dòng)物被移出房間，放置在臨時(shí)籠子中，直到所有籠都被測(cè)試完畢。

2. 第2天：在其中一個(gè)隔間中，動(dòng)物受到輕微的足部電擊。動(dòng)物放置在右室門關(guān)閉，試驗(yàn)進(jìn)行類似第1天，但動(dòng)物通過(guò)中間隔板時(shí)接受2秒的電擊。動(dòng)物在電擊后留在室內(nèi)30秒，然后被取出放置在臨時(shí)籠子中。

3. 第3天：動(dòng)物被放置在右室門關(guān)閉，試驗(yàn)與第1天相似。動(dòng)物在探索兩個(gè)隔間后學(xué)會(huì)將某些特性與足部電擊聯(lián)系起來(lái)。為測(cè)試學(xué)習(xí)和記憶能力，動(dòng)物被放回沒(méi)有電擊的隔間中。具有正常學(xué)習(xí)和記憶力的動(dòng)物將避免進(jìn)入先前暴露于電擊的隔間。

大小鼠避暗實(shí)驗(yàn)，XR-XB101，上海欣軟

數(shù)據(jù)分析與收集

記錄小鼠避暗潛伏期和錯(cuò)誤次數(shù)，以及動(dòng)物的被動(dòng)回避次數(shù)。這些數(shù)據(jù)可以用來(lái)評(píng)估動(dòng)物學(xué)習(xí)和記憶的能力。

注意事項(xiàng)

• 實(shí)驗(yàn)室應(yīng)保持安靜，光線適中，以避免給動(dòng)物額外刺激。

• 實(shí)驗(yàn)中應(yīng)及時(shí)清理糞便等雜物，以免影響電流強(qiáng)度。

• 由于動(dòng)物反應(yīng)的差異性較大，被動(dòng)回避測(cè)試更適用于初篩實(shí)驗(yàn)。

通過(guò)被動(dòng)回避測(cè)試，研究人員可以更好地理解學(xué)習(xí)和記憶的機(jī)制，以及某些神經(jīng)系統(tǒng)病對(duì)這些功能的影響。

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